更新时间：2020-05-22 20:14:21
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前言
第一版前言
第1章 晶体几何学基础
1.1 晶体点阵[1 2]
1.1.1 点阵概念
1.1.2 晶胞、晶系
1.1.3 点阵类型
1.2 晶体的宏观对称性和点群[1 2]
1.2.1 宏观对称元素和宏观对称操作
1.2.2 宏观对称性和点群
1.3 晶体的微观对称性和空间群[1 2]
1.3.1 微观对称要素与对称操作
1.3.2 230种空间群
1.4 倒易点阵[1]
1.4.1 倒易点阵概念的引入
1.4.2 正点阵与倒易点阵间的几何关系
1.4.3 晶带、晶带定律
1.5 晶体的结合类型[3 4]
1.5.1 离子结合
1.5.2 共价结合
1.5.3 金属结合
1.5.4 分子结合
1.5.5 氢键结合
1.5.6 混合键晶体
参考文献
第2章 X 射线衍射理论基础
2.1 X射线及X射线谱[1~6]
2.1.1 X射线的本质
2.1.2 X射线谱
2.2 射线与物质的交互作用[1 3]
2.2.1 X射线的吸收
2.2.2 激发效应
2.2.3 X射线的折射
2.2.4 X射线的反射
2.2.5 物质对X射线的散射和衍射
2.3 衍射线的方向[3~6]
2.3.1 劳厄方程
2.3.2 布拉格定律
2.4 多晶体衍射强度的运动学理论[4~6]
2.4.1 单个电子散射强度
2.4.2 单个原子散射强度
2.4.3 单个晶胞散射强度[7]
2.4.4 实际小晶粒积分衍射强度
2.4.5 实际多晶体衍射强度
2.5 X射线衍射及相关的研究方法
第3章 Ｘ 射线衍射实验装置
3.1 X射线衍射仪原理和实验技术
3.1.1 一般特点[1]
3.1.2 光学原理
3.1.3 衍射仪的准直和角度校准
3.1.4 衍射仪参数的选择
3.1.5 晶体单色器
3.2 X射线源
3.2.1 普通X射线源[2 3]
3.2.2 同步辐射光源[4]
3.3 X射线探测器和记录系统[2 3 5]
3.3.1 盖格计数器、正比计数器和闪烁计数器
3.3.2 能量探测器
3.3.3 面探测器
3.3.4 阵列探测器
3.3.5 记录系统的发展
3.4 工作模式及附件[2 3 5]
3.4.1 粉末衍射仪的工作模式
3.4.2 X射线粉末衍射仪中的附件
第4章 多晶X射线衍射实验方法
4.1 测角仪[1 2]
4.2 狭缝系统及几何光学[1~3]
4.3 样品制备
4.3.1 粉末的要求和制备
4.3.2 填样宽度和深度[4 5]
4.3.3 样品的放置位置[2]
4.3.4 样品颗粒粗细对数据的影响
4.4 粉末衍射数据的获取[1 2]
4.4.1 波长的选择
4.4.2 单色化
4.4.3 功率设定
4.4.4 步进扫描
4.4.5 连续扫描
4.4.6 扫描范围
4.5 实验方法和数据处理方法对实验结果的影响[6]
4.6 X射线的安全与防护[1]
第5章 物相定性分析
5.1 物相定性原理和ICDD数据库
5.1.1 物相定性分析的原理和方法[1]
5.1.2 粉末衍射卡组(PDF)及其索引
5.1.3 PDF数据库
5.2 定性分析的步骤[1]
5.2.1 实验获得待检测物质的衍射数据
5.2.2 数据观测与分析
5.2.3 检索和匹配
5.2.4 最后判断
5.2.5 具体示例
5.3 定性分析的计算机检索
5.3.1 PCPDFWIN定性相分析系统的应用
5.3.2 Jade 定性相分析系统的应用[12]
