电子微组装可靠性设计(基础篇)
上QQ阅读APP看本书,新人免费读10天
设备和账号都新为新人

2章 电子微组装封装技术

电子微组装封装技术,是用于电子元器件、电子微组装组件(HIC、MCM、SiP等)内部电互连和外部保护性封装的重要技术,它不仅关系到电子元器件、电子微组装组件自身的性能和可靠性,还影响到应用这些产品的电子设备功能和可靠性,特别是对电子设备小型化和集成化设计有着重要影响。在电子器件的生产中,电子产品体积的70%~99%由封装手段决定;封装成本占产品成本的30%~80%;超过50%的产品失效与封装有关;60%以上的热阻源于封装;50%以上的信号延迟源于封装;电子器件50%以上的电阻源于封装[1]

美国乔治亚理工学院的Rao R. Tummala[2]等在“微电子封装手册”中将微电子封装定义为:将一定功能的集成电路芯片,放置到一个与之相应的外壳容器中,为芯片提供一个稳定可靠的工作环境;同时,封装也是芯片各个输入端、输出端与外界的过渡手段,并且能有效地将封装内元器件工作时所产生的热量向外扩散,从而形成一个完整的整体,并通过一系列的性能测试、筛选和各种环境、气候、机械试验,来确保元器件的质量,使之具有稳定、正常的功能。随着微电子技术的飞速发展,集成电路(Integrated Circuit, IC)的集成度和复杂度越来越高,这对微电子封装技术提出了更高的要求:更多的引线、更密的内连线、更高的组装密度、更小的尺寸、更大的热耗散能力、更好的电性能、更高的可靠性等。本章重点介绍电子微组装封装技术概念及发展现状,以及芯片互连及材料、组件封装技术和材料,并分别介绍三类典型电子微组装组件产品的结构和材料特点。