2.3　样品表征

用X射线衍射仪（XRD，X' Pert PRO）表征样品的晶体结构，用带有X射线能谱仪（EDX）的场发射扫描电子显微镜（FE-SEM，Nova NanoSEM 450）表征样品的形貌特征，用透射电子显微镜（TEM，JEOL JEM-2100）表征样品的显微结构。