工业射线成像检测物理基础和原理与射线胶片照相检测法基本相同,都是利用射线在被透物体中产生的衰减和散射特性。两者的不同之处是记录介质(图像载体)。在此简单介绍射线成像的物理基础和原理是为射线成像检测理论部分打下基础。