聚合物电子显微术
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1.4 特殊的试样制备方法

大多数适用于无机材料的试样制备方法,例如,在金属及其合金等具有导电性能的材料中最常使用的电解减薄法、化学溶解减薄法和离子轰击减薄法等,对聚合物材料或者完全不适用,或者不甚适用。超薄切片是聚合物材料试样制备的基本方法,其他则有用于表面或断裂面观察的复型技术、粉碎降解、溶液成膜和聚焦离子束技术等。这些特殊制备方法的详细内容将在第4章阐述。

聚合物研究人员在使用电子显微术作表征时,对于上述与聚合物材料本身相关的问题应该给以足够的重视。首先,不同的材料所面临的问题有所不同,材料研究人员与电镜实验室工作人员共同商议,常常更易于找到可行的解决方法。其次,所面对的问题和所采取的解决措施都不可避免地在所记录的信息(例如照片)中留下印记,在图像解读时应该足够留意,辨别可能引入的伪迹与真实结构信息之间的混扰。